除開外觀設計，其先進的用戶界面，配合上12.1英寸超大觸摸屏與外接的鼠標和鍵盤，讓工程師能更快的添加或刪除窗口，通道和跡線。SNA5000A支持在多個窗口下，添加多條跡線進行S參數(shù)測量。并且測量結(jié)果，可以多種數(shù)據(jù)格式顯示，如 Log Mag，Lin Mag，Phase，Delay，Smith，SWR，Polar等，可以方便快捷地分析被測物的傳輸系數(shù)，反射系數(shù)，駐波比，阻抗匹配，相位，延時等參數(shù)。

在微波射頻領(lǐng)域，如何有效消除有害的測試夾具效應是一大挑戰(zhàn)。比如在對SMD器件進行測試時需要特定的測試夾具實現(xiàn)測試儀器測試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接，導致測試結(jié)果中包含了測試夾具的特性。目前SNA5000A系列提供的去除測試夾具影響的方法主要有：端口延伸，端口匹配，端口阻抗轉(zhuǎn)換，去嵌入，適配器移除等。
另外，SNA5000A系列還支持TDR時域反射計測量功能，可在時域?qū)鬏斁€的特征阻抗，時延等參數(shù)進行分析。