光電元件模組多功能測試系統(tǒng)
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產品名稱: 光電元件模組多功能測試系統(tǒng)
產品型號: 58625
產品展商: Chroma
產品文檔: 無相關文檔
簡單介紹
多合一整合型測試機
可彈性安排多種測試站
具精準之溫度平臺控制能力
溫控范圍可達-20~85℃
光學模組可支援大角度之發(fā)光角量測
實現(xiàn)奈秒級高速測試 (選配)
光電元件模組多功能測試系統(tǒng)
的詳細介紹
產品特色
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多合一整合型測試機
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可彈性安排多種測試站
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具精準之溫度平臺控制能力
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溫控范圍可達-20~85℃
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光學模組可支援大角度之發(fā)光角量測
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實現(xiàn)奈秒級高速測試 (選配)
應用范圍
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3D感測發(fā)光模組與晶片特性測試
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車用Lidar發(fā)光模組與晶片特性測試
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各種雷射(Laser)產品之特性測試
Chroma 58625為3D感測發(fā)光模組之特性測試設備，可結合各種不同光學模組于同一自動化平臺，精準控制溫度并完成所有測試。依不同光學模組之安排，其測試內容涵蓋電性、光能量、波長、近場光學、遠場光學等各種光電特性參數(shù)，非常適合3D 感測發(fā)光元件之產品開發(fā)與產品品質出入料檢驗。
光能量與波長量測(LIV+λ)
搭配高性能積分球與高解析度光譜儀可應用于量測3D感測發(fā)光模組之光能量與波長特性，Chroma 58625并提供彈性化設計，使用者可依不同之測試需求自訂測試情境，透過光能量(Light Power)、電流(Current)、電壓(Voltage) 的掃描測試，可推算出各種光電參數(shù)如閥值電流(Ith)、光電轉換效率(PCE)、斜率效率(SE)。
遠場光學量測 (Far Field Test)
于3D感測發(fā)光模組的遠場光學量測應用上，Chroma 58625以屏幕投影式技術，可量測高達120度發(fā)散角之3D感測發(fā)光模組，利用Chroma開發(fā)之獨特演算法，分析遠場光型，獲得發(fā)散角、均勻性(beam uniformity)與IEC 60825人眼**規(guī)范Class 1的自動判斷。另外，Chroma 58625亦可搭配beam profiler，提供更高解析度之測試需求。
近場光學量測 (Near Field Test)
近場光學量測主要應用于3D感測模組中發(fā)光晶片(Laser Diodes)之近場光學量測，搭配高性能之顯微鏡模組與自動尋光平臺，可量測雷射(Laser Diodes)之光腰寬(Beam waist W0)、發(fā)散角(divergence angle)、射束品質(beam propagation ratio M2)；另外，應用于多光源雷射(Laser array)時，透過Chroma獨特的影像分析技術可獲得雷射光強度均勻性(uniformity)之資訊。
